一、引言
材料的絕緣性能是保障電氣設(shè)備安全運(yùn)行和電子器件正常工作的關(guān)鍵特性之一。在不同的特殊環(huán)境條件下，材料的絕緣性能可能會(huì)受到多種因素的影響而發(fā)生變化。了解和掌握這些特殊環(huán)境下的絕緣性能測(cè)試要點(diǎn)，對(duì)于準(zhǔn)確評(píng)估材料的適用性和可靠性具有重要意義。本文將詳細(xì)探討材料在高溫、低溫、濕熱以及高海拔等特殊環(huán)境下絕緣性能的測(cè)試要點(diǎn)。
二、高溫環(huán)境下的測(cè)試要點(diǎn)
(一)溫度控制與監(jiān)測(cè)
精確控溫設(shè)備
使用能夠精確控制溫度的加熱設(shè)備，如恒溫箱或高溫試驗(yàn)爐。溫度控制精度應(yīng)根據(jù)測(cè)試要求確定，一般在 ±1℃至 ±5℃之間，對(duì)于高精度測(cè)試，可能需要更高的控溫精度。
確保加熱設(shè)備的溫度分布均勻性，避免因局部溫度過高或過低影響測(cè)試結(jié)果?？赏ㄟ^在測(cè)試區(qū)域內(nèi)布置多個(gè)溫度傳感器進(jìn)行監(jiān)測(cè)，溫度傳感器的數(shù)量和位置應(yīng)根據(jù)設(shè)備尺寸和測(cè)試樣品的大小合理確定。
溫度監(jiān)測(cè)與記錄
在測(cè)試過程中，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)材料所處環(huán)境的溫度。采用高精度的溫度記錄儀，記錄溫度隨時(shí)間的變化曲線。溫度記錄的時(shí)間間隔應(yīng)根據(jù)測(cè)試的持續(xù)時(shí)間和溫度變化的速率來確定，一般在幾分鐘到幾十分鐘之間，以確保能夠準(zhǔn)確捕捉到溫度的變化情況。
對(duì)溫度監(jiān)測(cè)設(shè)備進(jìn)行定期校準(zhǔn)，以保證溫度測(cè)量的準(zhǔn)確性。校準(zhǔn)周期可根據(jù)設(shè)備的使用頻率和精度要求確定，一般為半年到一年一次。
(二)樣品準(zhǔn)備與安裝
樣品尺寸與形狀
根據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和實(shí)際應(yīng)用需求，選擇合適尺寸和形狀的樣品。樣品的尺寸應(yīng)足夠大，以保證能夠進(jìn)行有效的絕緣性能測(cè)試，同時(shí)又要考慮到在高溫環(huán)境下的熱傳導(dǎo)和熱應(yīng)力分布情況。一般來說，樣品的面積應(yīng)不小于 100mm×100mm，厚度應(yīng)根據(jù)材料的類型和測(cè)試方法確定。
對(duì)于一些特殊形狀的樣品，如圓柱形或管狀材料，需要采用特殊的夾具或安裝方式，以確保樣品在高溫下能夠穩(wěn)定地固定在測(cè)試位置，并與測(cè)試電極良好接觸。
表面處理
在進(jìn)行高溫測(cè)試前，對(duì)樣品的表面進(jìn)行清潔處理，去除表面的油污、灰塵和雜質(zhì)等。可采用有機(jī)溶劑清洗或超聲波清洗等方法，確保樣品表面的清潔度。
對(duì)于一些容易氧化的材料，在高溫環(huán)境下可能會(huì)發(fā)生表面氧化反應(yīng)，影響絕緣性能測(cè)試結(jié)果。因此，需要對(duì)樣品進(jìn)行適當(dāng)?shù)谋砻娣雷o(hù)處理，如涂覆抗氧化涂層或在惰性氣體環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試。
安裝方式
將樣品安裝在測(cè)試夾具上時(shí)，要確保樣品與夾具之間的接觸良好，避免出現(xiàn)接觸電阻過大的情況。可采用彈簧夾、螺栓緊固等方式進(jìn)行固定，同時(shí)在接觸部位添加適量的導(dǎo)電膏或墊片，以減小接觸電阻。
注意樣品在夾具上的安裝位置和方向，應(yīng)保證測(cè)試電極與樣品表面垂直且均勻接觸，以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
(三)測(cè)試參數(shù)選擇與測(cè)量
電壓等級(jí)與施加方式
根據(jù)材料的絕緣等級(jí)和實(shí)際應(yīng)用情況，選擇合適的測(cè)試電壓等級(jí)。測(cè)試電壓應(yīng)逐漸升高，避免突然施加過高電壓導(dǎo)致材料擊穿或損壞。一般采用階梯升壓的方式，每級(jí)電壓升高后保持一定時(shí)間，觀察材料的絕緣性能變化情況，直到達(dá)到預(yù)定的測(cè)試電壓或出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象。
在高溫環(huán)境下，由于材料的電導(dǎo)率可能會(huì)隨溫度升高而增加，因此需要考慮電壓施加時(shí)間對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。施加電壓的時(shí)間應(yīng)根據(jù)材料的特性和測(cè)試要求確定，一般在幾分鐘到幾十分鐘之間。
絕緣電阻測(cè)量
采用合適的絕緣電阻測(cè)量?jī)x器，如兆歐表或高阻計(jì)。在測(cè)量絕緣電阻時(shí)，應(yīng)確保測(cè)試電極與樣品表面接觸良好，避免出現(xiàn)漏電現(xiàn)象。同時(shí)，要注意測(cè)量?jī)x器的量程選擇，應(yīng)使測(cè)量值在儀器量程的合理范圍內(nèi)，以提高測(cè)量精度。
由于高溫下材料的絕緣電阻可能會(huì)隨時(shí)間發(fā)生變化，因此需要進(jìn)行連續(xù)測(cè)量或定時(shí)測(cè)量，并記錄絕緣電阻隨時(shí)間的變化曲線。測(cè)量時(shí)間間隔應(yīng)根據(jù)材料的特性和測(cè)試要求確定，一般在幾分鐘到幾十分鐘之間。
介電強(qiáng)度測(cè)試
進(jìn)行介電強(qiáng)度測(cè)試時(shí)，需要使用專門的高壓試驗(yàn)設(shè)備，如耐壓測(cè)試儀。測(cè)試過程中，應(yīng)逐漸升高施加在樣品上的電壓，直到樣品發(fā)生擊穿，記錄此時(shí)的擊穿電壓值。
在高溫環(huán)境下，介電強(qiáng)度可能會(huì)降低，因此需要適當(dāng)降低測(cè)試電壓的升壓速率，以準(zhǔn)確捕捉到樣品的擊穿點(diǎn)。同時(shí)，要注意觀察樣品在擊穿過程中的現(xiàn)象，如擊穿的位置、形式和聲音等，以便分析擊穿的原因。
(四)數(shù)據(jù)處理與分析
數(shù)據(jù)記錄與整理
在測(cè)試過程中，詳細(xì)記錄各項(xiàng)測(cè)試數(shù)據(jù)，包括溫度、電壓、絕緣電阻、擊穿電壓等。同時(shí)，記錄測(cè)試的時(shí)間、樣品編號(hào)、測(cè)試設(shè)備型號(hào)等相關(guān)信息，以便后續(xù)的數(shù)據(jù)處理和分析。
將測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行整理，建立數(shù)據(jù)表格或數(shù)據(jù)庫(kù)，方便數(shù)據(jù)的查詢和分析。對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行初步檢查，剔除異常數(shù)據(jù)和錯(cuò)誤數(shù)據(jù)，確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。
數(shù)據(jù)分析方法
繪制絕緣電阻隨溫度和時(shí)間的變化曲線，分析材料的絕緣電阻在高溫環(huán)境下的變化規(guī)律。通過曲線擬合或數(shù)據(jù)分析軟件，確定絕緣電阻與溫度、時(shí)間之間的函數(shù)關(guān)系，以便對(duì)材料的絕緣性能進(jìn)行定量評(píng)估。
對(duì)介電強(qiáng)度測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，計(jì)算平均值、標(biāo)準(zhǔn)差和變異系數(shù)等統(tǒng)計(jì)參數(shù)，評(píng)估材料在高溫下的介電強(qiáng)度的穩(wěn)定性和分散性。同時(shí)，比較不同樣品或不同測(cè)試條件下的介電強(qiáng)度數(shù)據(jù)，分析溫度對(duì)材料介電強(qiáng)度的影響程度。
結(jié)果評(píng)估與報(bào)告
根據(jù)數(shù)據(jù)分析結(jié)果，評(píng)估材料在高溫環(huán)境下的絕緣性能是否滿足實(shí)際應(yīng)用的要求。如果測(cè)試結(jié)果不符合要求，需要進(jìn)一步分析原因，可能是材料本身的問題，也可能是測(cè)試方法或測(cè)試設(shè)備的問題。
編寫測(cè)試報(bào)告，報(bào)告應(yīng)包括測(cè)試目的、測(cè)試方法、測(cè)試結(jié)果、數(shù)據(jù)分析和結(jié)論等內(nèi)容。測(cè)試報(bào)告應(yīng)簡(jiǎn)潔明了、準(zhǔn)確客觀，為材料的研發(fā)、生產(chǎn)和應(yīng)用提供可靠的參考依據(jù)。
三、低溫環(huán)境下的測(cè)試要點(diǎn)
(一)低溫設(shè)備與環(huán)境控制
低溫制冷系統(tǒng)
使用專業(yè)的低溫制冷設(shè)備，如低溫冰箱、液氮制冷裝置或低溫試驗(yàn)箱。這些設(shè)備能夠提供穩(wěn)定的低溫環(huán)境，溫度范圍可根據(jù)測(cè)試要求選擇，一般可達(dá)到 -40℃至 -196℃(液氮溫度)。
在使用低溫制冷設(shè)備時(shí)，要注意設(shè)備的制冷功率和制冷效率，確保能夠在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)將測(cè)試環(huán)境溫度降至所需的低溫值。同時(shí)，要定期檢查和維護(hù)制冷設(shè)備，保證其正常運(yùn)行和制冷效果。
溫度均勻性與穩(wěn)定性
為了保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，低溫環(huán)境的溫度均勻性和穩(wěn)定性至關(guān)重要。在測(cè)試區(qū)域內(nèi)布置多個(gè)溫度傳感器，監(jiān)測(cè)不同位置的溫度變化情況。通過調(diào)整制冷設(shè)備的工作參數(shù)和氣流循環(huán)方式，確保測(cè)試區(qū)域內(nèi)的溫度均勻性在 ±2℃以內(nèi)。
采用溫度控制系統(tǒng)對(duì)低溫環(huán)境進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控和調(diào)節(jié)，使溫度在測(cè)試過程中保持穩(wěn)定。溫度波動(dòng)范圍應(yīng)根據(jù)測(cè)試要求確定，一般在 ±0.5℃至 ±1℃之間。對(duì)于一些對(duì)溫度變化敏感的測(cè)試，可能需要更小的溫度波動(dòng)范圍。
(二)樣品處理與測(cè)試準(zhǔn)備
樣品預(yù)處理
在低溫測(cè)試前，將樣品放置在低溫環(huán)境中進(jìn)行預(yù)處理，使樣品溫度與測(cè)試環(huán)境溫度達(dá)到平衡。預(yù)處理時(shí)間應(yīng)根據(jù)樣品的尺寸、材料的熱導(dǎo)率和測(cè)試要求確定，一般在幾個(gè)小時(shí)到十幾個(gè)小時(shí)之間。
對(duì)于一些容易吸潮的材料，在低溫環(huán)境下可能會(huì)出現(xiàn)結(jié)霜或結(jié)冰現(xiàn)象，影響絕緣性能測(cè)試結(jié)果。因此，需要對(duì)樣品進(jìn)行干燥處理，去除樣品中的水分?？刹捎谜婵崭稍?、加熱干燥或干燥劑吸附等方法進(jìn)行干燥處理，確保樣品在測(cè)試前處于干燥狀態(tài)。
測(cè)試夾具與電極設(shè)計(jì)
低溫環(huán)境下，材料的物理性能可能會(huì)發(fā)生變化，如變硬、變脆等。因此，測(cè)試夾具和電極的設(shè)計(jì)應(yīng)考慮到材料的這些變化，確保在測(cè)試過程中不會(huì)對(duì)樣品造成損傷，同時(shí)保證電極與樣品之間的良好接觸。
測(cè)試夾具和電極應(yīng)采用低溫性能良好的材料制作，如不銹鋼、銅合金等。在安裝電極時(shí)，要注意電極與樣品之間的壓力適中，避免因壓力過大導(dǎo)致樣品破裂或電極損壞，同時(shí)也要確保電極與樣品之間的接觸電阻足夠小。
(三)測(cè)試過程中的注意事項(xiàng)
測(cè)試溫度選擇與控制
根據(jù)材料的使用環(huán)境和測(cè)試目的，選擇合適的低溫測(cè)試溫度點(diǎn)。一般來說，應(yīng)選擇幾個(gè)具有代表性的溫度點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，如 -20℃、 -40℃、 -60℃等。在每個(gè)溫度點(diǎn)下，保持一定的時(shí)間，使樣品的絕緣性能達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)后再進(jìn)行測(cè)試。
在測(cè)試過程中，嚴(yán)格控制測(cè)試環(huán)境的溫度，避免溫度波動(dòng)對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生影響。如果發(fā)現(xiàn)溫度有異常變化，應(yīng)及時(shí)停止測(cè)試，檢查制冷設(shè)備和溫度控制系統(tǒng)，排除故障后再繼續(xù)測(cè)試。
測(cè)試速度與時(shí)間
低溫下，材料的響應(yīng)速度可能會(huì)變慢，因此在進(jìn)行絕緣性能測(cè)試時(shí)，測(cè)試速度應(yīng)適當(dāng)降低。例如，在測(cè)量絕緣電阻時(shí)，充電時(shí)間應(yīng)適當(dāng)延長(zhǎng)，以確保樣品充分充電，得到準(zhǔn)確的絕緣電阻值。
測(cè)試時(shí)間也應(yīng)根據(jù)材料的特性和測(cè)試要求確定。對(duì)于一些在低溫下可能會(huì)發(fā)生緩慢變化的絕緣性能參數(shù)，如介電損耗因數(shù)，需要進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試，觀察其隨時(shí)間的變化趨勢(shì)。一般測(cè)試時(shí)間在幾十分鐘到幾個(gè)小時(shí)之間。
防止樣品表面結(jié)霜與凝露
在低溫測(cè)試過程中，由于環(huán)境溫度較低，空氣中的水分可能會(huì)在樣品表面結(jié)霜或凝露，從而影響測(cè)試結(jié)果。為了防止這種情況的發(fā)生，可在測(cè)試前對(duì)測(cè)試環(huán)境進(jìn)行除濕處理，降低空氣中的濕度。
也可以在樣品表面覆蓋一層防水透氣的薄膜或采用特殊的防霜涂層，減少水分在樣品表面的凝結(jié)。同時(shí)，在測(cè)試過程中，要定期觀察樣品表面的狀態(tài)，如有結(jié)霜或凝露現(xiàn)象，應(yīng)及時(shí)停止測(cè)試，對(duì)樣品進(jìn)行處理后再繼續(xù)測(cè)試。
(四)數(shù)據(jù)處理與結(jié)果分析
數(shù)據(jù)記錄與整理
同高溫環(huán)境下的測(cè)試一樣，在低溫測(cè)試過程中要詳細(xì)記錄各項(xiàng)測(cè)試數(shù)據(jù)，包括溫度、電壓、絕緣電阻、介電常數(shù)、介電損耗因數(shù)等。同時(shí)，記錄測(cè)試的時(shí)間、樣品編號(hào)、測(cè)試設(shè)備型號(hào)等相關(guān)信息。
將測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行整理和分類，按照不同的溫度點(diǎn)和測(cè)試參數(shù)建立數(shù)據(jù)表格或數(shù)據(jù)庫(kù)。對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行初步檢查和篩選，去除明顯異常的數(shù)據(jù)，確保數(shù)據(jù)的可靠性和有效性。
數(shù)據(jù)分析方法
繪制絕緣性能參數(shù)隨溫度變化的曲線，如絕緣電阻 - 溫度曲線、介電常數(shù) - 溫度曲線、介電損耗因數(shù) - 溫度曲線等。通過分析這些曲線，了解材料的絕緣性能在低溫環(huán)境下的變化規(guī)律和趨勢(shì)。
采用數(shù)學(xué)方法對(duì)曲線進(jìn)行擬合和分析，確定絕緣性能參數(shù)與溫度之間的函數(shù)關(guān)系。例如，可以采用線性擬合、多項(xiàng)式擬合或指數(shù)擬合等方法，根據(jù)擬合結(jié)果計(jì)算出材料在不同溫度下的絕緣性能參數(shù)值，并分析溫度系數(shù)等相關(guān)參數(shù)。
對(duì)不同樣品或不同測(cè)試條件下的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行對(duì)比分析，評(píng)估材料的低溫絕緣性能的穩(wěn)定性和一致性。同時(shí)，結(jié)合材料的微觀結(jié)構(gòu)和物理化學(xué)性質(zhì)，分析影響絕緣性能的因素和機(jī)理。
結(jié)果評(píng)估與應(yīng)用
根據(jù)數(shù)據(jù)分析結(jié)果，評(píng)估材料在低溫環(huán)境下的絕緣性能是否滿足實(shí)際應(yīng)用的要求。如果測(cè)試結(jié)果符合要求，可為材料在低溫領(lǐng)域的應(yīng)用提供技術(shù)支持和數(shù)據(jù)參考。如果測(cè)試結(jié)果不理想，需要進(jìn)一步研究和改進(jìn)材料的配方、工藝或結(jié)構(gòu)，以提高其低溫絕緣性能。
在結(jié)果評(píng)估過程中，還應(yīng)考慮到材料在實(shí)際使用過程中的其他因素，如機(jī)械應(yīng)力、熱沖擊等對(duì)絕緣性能的影響。綜合評(píng)估材料的整體性能，為材料的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和應(yīng)用提供全面的指導(dǎo)。
四、濕熱環(huán)境下的測(cè)試要點(diǎn)
(一)濕熱試驗(yàn)設(shè)備與條件設(shè)置
濕熱試驗(yàn)箱
采用專業(yè)的濕熱試驗(yàn)箱進(jìn)行測(cè)試，該設(shè)備能夠精確控制溫度和濕度，并模擬不同的濕熱環(huán)境條件。濕熱試驗(yàn)箱的溫度范圍一般為 10℃至 95℃，濕度范圍為 20% RH 至 98% RH。
在選擇濕熱試驗(yàn)箱時(shí)，要注意設(shè)備的容積大小、溫度和濕度的控制精度、均勻性以及升降溫速率等參數(shù)，應(yīng)根據(jù)測(cè)試樣品的尺寸和測(cè)試要求進(jìn)行合理選擇。同時(shí)，要確保設(shè)備的運(yùn)行穩(wěn)定性和可靠性，定期進(jìn)行維護(hù)和校準(zhǔn)。
溫濕度控制與監(jiān)測(cè)
設(shè)置合適的濕熱試驗(yàn)條件，如溫度、濕度和試驗(yàn)時(shí)間等。根據(jù)實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，確定具體的試驗(yàn)參數(shù)。例如，對(duì)于一些電子產(chǎn)品的濕熱測(cè)試，可能采用溫度為 40℃、相對(duì)濕度為 95% RH 的條件，試驗(yàn)時(shí)間為 96 小時(shí)或更長(zhǎng)。
在試驗(yàn)過程中，通過溫濕度傳感器對(duì)試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度和濕度進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和記錄。溫濕度傳感器的精度應(yīng)滿足測(cè)試要求，一般溫度精度在 ±0.5℃以內(nèi)，濕度精度在 ±2% RH 以內(nèi)。定期對(duì)溫濕度傳感器進(jìn)行校準(zhǔn)，確保測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
確保試驗(yàn)箱內(nèi)的溫濕度均勻性，通過合理的空氣循環(huán)和加濕、除濕系統(tǒng)設(shè)計(jì)，使試驗(yàn)箱內(nèi)不同位置的溫濕度差異控制在規(guī)定的范圍內(nèi)。一般要求在試驗(yàn)區(qū)域內(nèi)任意兩點(diǎn)之間的溫濕度差值不超過設(shè)定值的 ±5%。
(二)樣品準(zhǔn)備與安裝
樣品預(yù)處理
在進(jìn)行濕熱測(cè)試前，對(duì)樣品進(jìn)行預(yù)處理，以去除樣品表面的雜質(zhì)和污染物，并確保樣品的初始狀態(tài)一致。可以采用清潔溶劑對(duì)樣品表面進(jìn)行清洗，然后在干燥環(huán)境中晾干。
對(duì)于一些需要進(jìn)行吸濕平衡處理的材料，將樣品放置在相對(duì)濕度為 50% RH 的環(huán)境中一定時(shí)間，使其達(dá)到吸濕平衡狀態(tài)。然后再將樣品放入濕熱試驗(yàn)箱中進(jìn)行測(cè)試，以減少樣品在初始階段因吸濕過程對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
樣品安裝方式
將樣品安裝在濕熱試驗(yàn)箱內(nèi)的專用夾具或支架上，確保樣品能夠穩(wěn)定地放置在試驗(yàn)環(huán)境中，并與周圍環(huán)境充分接觸。安裝時(shí)要注意避免樣品之間的相互遮擋和干擾，保證每個(gè)樣品都能受到均勻的溫濕度作用。
在樣品與夾具或支架的接觸部位，應(yīng)采取適當(dāng)?shù)慕^緣措施，防止因接觸部位的導(dǎo)電而影響測(cè)試結(jié)果?？梢允褂媒^緣墊片或涂層等材料進(jìn)行隔離，確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
(三)測(cè)試過程中的監(jiān)測(cè)與記錄
絕緣性能參數(shù)測(cè)量
在濕熱試驗(yàn)過程中，定期對(duì)樣品的絕緣性能參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，如絕緣電阻、介電常數(shù)、介電損耗因數(shù)等。測(cè)量的時(shí)間間隔應(yīng)根據(jù)測(cè)試要求和樣品的特性確定，一般在幾個(gè)小時(shí)到一天之間。
使用合適的測(cè)試儀器進(jìn)行絕緣性能參數(shù)的測(cè)量，確保儀器的精度和量程滿足測(cè)試要求。在測(cè)量前，應(yīng)對(duì)測(cè)試儀器進(jìn)行校準(zhǔn)和檢查，保證測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。同時(shí)，要注意測(cè)量環(huán)境的溫濕度對(duì)測(cè)試儀器的影響，必要時(shí)采取相應(yīng)的補(bǔ)償措施。
外觀檢查與記錄
在濕熱試驗(yàn)過程中，定期觀察樣品的外觀變化情況，包括是否出現(xiàn)發(fā)霉、生銹、起泡、變形等現(xiàn)象。記錄外觀變化的時(shí)間、程度和特征等信息，并拍攝照片作為證據(jù)。
外觀檢查可以幫助及時(shí)發(fā)現(xiàn)樣品在濕熱環(huán)境下可能出現(xiàn)的問題，如材料的腐蝕、老化等，這些問題可能會(huì)影響樣品的絕緣性能。通過對(duì)外觀變化的觀察和分析，可以進(jìn)一步了解材料在濕熱環(huán)境下的性能退化機(jī)制。
失效判定與記錄
在測(cè)試過程中，當(dāng)樣品的絕緣性能參數(shù)下降到規(guī)定的失效標(biāo)準(zhǔn)或出現(xiàn)明顯的失效現(xiàn)象時(shí)，如絕緣電阻急劇下降、樣品擊穿等，應(yīng)判定樣品失效，并記錄失效的時(shí)間、失效模式和相關(guān)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
對(duì)于失效的樣品，應(yīng)進(jìn)行詳細(xì)的分析和檢查，以確定失效的原因?？赡艿脑虬ú牧媳旧淼馁|(zhì)量問題、工藝缺陷、環(huán)境因素的影響等。通過對(duì)失效原因的分析，為改進(jìn)材料的性能和提高產(chǎn)品的可靠性提供依據(jù)。
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更新時(shí)間：2024-10-25 
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